深圳市恒汇鑫科技有限公司

    MLCC虽然功能简单，但是由于广泛应用于智能手机等电子产品中，一旦失效会导致电路失灵，功能不正常，甚至导致产品燃烧，爆炸等安全问题，其失效模式不得不受到品质检测等相关工程师的关注。
    而在多种失效模式中，电容漏电（低绝缘阻抗）是常见的失效类型，其主要原因可分为制造过程中的内在因素及生产过程中的外界因素。
    贴片电容漏电的原因分为2种，一种是内部的问题，一种是外部的问题
    一、 内在因素
    1.    空洞 Void
    电容内部异物在烧结过程中挥发掉形成的空洞。空洞会导致电极间的短路及潜在电气失效，空洞较大的话不仅降低IR，还会降低有效容值。当上电时，有可能因为漏电导致空洞局部发热，降低陶瓷介质的绝缘性能，加剧漏电，从而发生开裂，爆炸，燃烧等现象。
    2.    烧结裂纹 Crack
    烧结裂纹一般缘于烧结过程中快速冷却，在电极边垂直方向上出现。
    3.    分层 Delamination
    分层的产生往往是在堆叠之后，因层压不良或排胶、烧结不充分导致，在层与层间混入了空气，外界杂质而出现锯齿状横向开裂。也有可能是不同材料混合后热膨胀不匹配导致。
    二、外界因素
    1.    热冲击
    热冲击主要发生在波峰焊时，温度急剧变化，导致电容内部电极间出现裂缝，一般需要通过测量发现，研磨后观察，通常是较小的裂缝，需要借助放大镜确认，少数情况下会出现肉眼可见的裂缝。
    这种情况下建议使用回流焊，或者减缓波峰焊时的温度变化（不超过4~5℃/s），在清洗面板前控制温度在60℃以下。
    2.    外界机械应力
    因为MLCC主要成分是陶瓷，在放置元件，分板，上螺丝等工序中，很可能因为机械应力过大导致电容受挤压破裂，从而导致潜在的漏电失效。此时的裂缝一般呈斜线，从端子与陶瓷体的结合处开裂。
    3.    焊锡迁移
    高湿环境下进行焊接有可能导致电容两端焊锡迁移，连接到一起导致漏电短路。